పార్ట్ నంబర్ :
SN74BCT8374ADWRE4
తయారీదారు :
Texas Instruments
వివరణ :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
లాజిక్ రకం :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
సరఫరా వోల్టేజ్ :
4.5V ~ 5.5V
నిర్వహణా ఉష్నోగ్రత :
0°C ~ 70°C
మౌంటు రకం :
Surface Mount
ప్యాకేజీ / కేసు :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
సరఫరాదారు పరికర ప్యాకేజీ :
24-SOIC