పార్ట్ నంబర్ :
SN74BCT8373ANT
తయారీదారు :
Texas Instruments
వివరణ :
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
లాజిక్ రకం :
Scan Test Device with D-Type Latches
సరఫరా వోల్టేజ్ :
4.5V ~ 5.5V
నిర్వహణా ఉష్నోగ్రత :
0°C ~ 70°C
ప్యాకేజీ / కేసు :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
సరఫరాదారు పరికర ప్యాకేజీ :
24-PDIP